中国科学技术信息研究所--国家工程技术数字图书馆

[会议] 张民选张承义王永文高军第七届计算机工程与工艺学术年会 2001年7届共 304 页

摘要 : 随着ASIC集成规模越来越大,可测性设计技术在数字系统设计过程中的地位愈发重要.本文在已有的可测性设计基础上,提出了一种简洁有效的可测性设计技术,可测试部分不可测故障,提高了故障覆盖率.,

关键词 : ASIC 可测试性设计故障覆盖率数字电路

[会议] Cheng Yu 成玉 Zhang Chengyi 张承义 Zhang Minxuan 张民选第十五届计算机工程与工艺年会暨第一届微处理器技术论坛 2011年共 7 页

摘要 : 随着集成电路工艺的不断进步,微处理器面临的软错误问题日益突出.基于软错误易感性的阶段特性对微处理器容错技术进行动态调整的动态管理技术是当前软错误研究领域的热点.为了对微处理器进行动态容错管理,首先就需要对软错误易感性进行评估以及对其阶... 展开

关键词 : 微处理器体系结构软错误问题易感性评估阶段特性

[会议] 张承义张民选王永文高军第七届计算机工程与工艺学术年会 2001年7届共 7 页

摘要 : 随着深亚微米、超深亚微米工艺的发展,系统芯片(SoC)技术成为微电子技术发展的主流.相应地,传统的测试技术已不能满足需要.本文介绍了当前用于系统芯片测试的边界扫描、内置自测试(BIST)等可测试性设计技术,并对系统芯片的设计方法提出了合理的建议.

关键词 : 系统芯片可测试性设计边界扫描内置自测试

[会议] 高军王永文张承义赵天磊第十九届计算机工程与工艺年会暨第五届微处理器技术论坛 2015年共 6 页

摘要 : 随着工艺特征尺寸的不断缩小,芯片的可靠性问题日益突出.本文针对芯片的片上存储结构,提出了一种基于路交叉的低开销高可靠片上存储体容软错误设计方法.该方法将片上存储体Cache的数据以路交叉的方式分散存储,保证了单粒子轰击导致的相邻多位错仅发生... 展开

关键词 : 片上存储路交叉容软错误硬件开销时序性能

[会议] 王济铭张民选张承义邓林陈金林李永进第十九届计算机工程与工艺年会暨第五届微处理器技术论坛 2015年共 6 页

摘要 : 低功耗设计是目前微处理器设计中的重要环节.为了降低功耗,X处理器采用了时钟门控、电源门控、DVFS等低功耗设计技术.本文通过开发板控制模块和固件级的测试程序,对流片后的X处理器各功耗优化功能进行了测试,统计了各执行模式下的功耗值,并且分别建立... 展开

关键词 : 处理器负载功耗数学模型

[会议] 王晓凤张承义邢座程第十八届计算机工程与工艺年会暨第四届微处理器技术论坛 2014年共 6 页

摘要 : 电源关断(PSO:Power Shut-off)技术是一种对降低静态功耗非常有效的技术手段,它采用睡眠晶体管来动态控制功能电路的供电电源,在功能电路不工作时,功能管理部件便会关闭晶体管,功能电路的电源即被切断,以此降低电路在不工作时的静态功耗.本文基于某16... 展开

关键词 : 片上多核处理器电源关断静态功耗模块验证

[会议] 孙曜张承义张民选第十七届计算机工程与工艺年会暨第三届微处理器技术论坛 2013年共 6 页

摘要 : 多核多线程微处理器日益普及,其功耗问题也越发突出.传统的低功耗技术已经不能有效地降低功耗,需要从更多的方面、不同的层次对处理器的功耗进行优化。本文以Sun OpenSPARC T2的Verilog代码为基础，通过使用动态频率调节技术和电源门控技术，对OpenSP... 展开

关键词 : 微处理器低功耗设计动态频率调节电源门控

[会议] Sun Cai-xia 孙彩霞 Zhao Tian-lei 赵天磊 Zhang Cheng-yi 张承义 Zhang Ming 张明 Wang Yong-wen 王永文第18届全国信息存储技术学术会议 2012年共 6 页

摘要 : 单核处理器中已有的“存储墙”问题在多核处理器中依然存在,甚至更加严重.存储系统仍将是影响计算机系统性能的瓶颈.除了“存储墙”问题外,多核处理器中,存储系统的设计还面临线程间访存冲突、访存带宽有限、应用行为多样等挑战,针对这些挑战研究多核... 展开

关键词 : 多核处理器共享存储资源管理系统框架应用行为感知

[会议] Zhang Chengyi 张承义 Guo Wei 郭维 Zhou Hongwei 周宏伟第十五届计算机工程与工艺年会暨第一届微处理器技术论坛 2011年共 6 页

摘要 : 当集成电路制造工艺水平发展到超深亚微米阶段,漏流功耗将超越动态功耗,成为微处理器功耗的决定因素.Cache一般是微处理器中面积最大的部件,是漏流功耗的主要来源.Cache漏流功耗可以通过把握或改变cache的工作状态来进行自适应的优化.提出了基于"逻辑... 展开

关键词 : 微处理器存储器漏流功耗容量调整

10. SoC体系结构级功耗模拟与优化技术

[会议] Xing Zuocheng 邢座程 Ma Anguo 马安国 Zhang Chengyi 张承义 Li Jinwen 李晋文 Zhou Hongwei 周宏伟 Wang Yongwen 王永文第十三届计算机工程与工艺会议（NCCET09’） 2009年共 6 页

摘要 : 随着集成电路制造工艺水平发展到超深亚微米阶段,SoC(System on Chip)的功耗问题越来越突出,成为继续提升性能的主要障碍。功耗的显著增加不但引起能源消耗和制造成本增加,而且给SoC工作的稳定性和可靠性带来严峻的挑战。电路级以及门级低功耗设计技术... 展开

关键词 : 微处理器片上系统低功耗设计体系结构