[会议]中国计算机学会第七届计算机工程与工艺学术年会论文集  张民选, 张承义, 王永文, 高军

摘要: 随着ASIC集成规模越来越大,可测性设计技术在数字系统设计过程中的地位愈发重要.本文在已有的可测性设计基础上,提出了一种简洁有效的可测性设计技术,可测试部分不可测故障,提高了故障覆盖率.,

作者 张民选   张承义   王永文   高军  
作者单位
文集名称 第七届计算机工程与工艺学术年会论文集
出版年 2001
出版社/出版地 中国计算机学会 / 北京
会议名称 第七届计算机工程与工艺学术年会  
组织单位 中国计算机学会  
页码 105-408 开始页/总页数 105 / 304
会议日期/会议地点 2001-08-01 / 太原 会议年/会议届次 2001 / 7
中图分类号 TP331   TP302.1  
关键词 ASIC   可测试性设计   故障覆盖率   数字电路  
馆藏号 H045907
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