[学位论文]
  • 卢康
  • 西安电子科技大学

摘要: 随着现代数字集成电路工艺技术的不断提高,数字系统设计变得越来越复杂,这对数字验证工作的要求也变得越来越高,采用高效率的验证方法对整个芯片的设计完成变得非常重要。不同于传统验证方法,UVM结合了面向对象编程、动态线程及线程间通信等特性,... 展开

作者 卢康   授予学位单位 西安电子科技大学  
导师 汤晓燕;黎何 学位 硕士
学科 软件工程   国籍 CN
页码/总页数 1-92 / 92 出版年 2020
中图分类号 TN406
关键词 芯片测试   通用验证框架   分层结构   自动比较   可配置性   覆盖率  
馆藏号 Y3786290
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