主管单位：
北京市科学技术研究院
主办单位：
北京自动测试技术研究所
国际刊号：
1000-8519
国内刊号：
11-3927/TN
出版周期：
半月刊
地 址：
北京市100098-002信箱
邮政编码：
100098
电 话：
010-59713435010-56236918
电子邮箱：
ed@test169.com
| 序号 | 标题 | 作者 | 起始页 | 操作 |
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| 2 | 半刚电缆组件失效问题分析及工艺控制研究 | 崔伯洋, 邵祥, 王晓杰... | 8 | |
| 3 | 基于Hadoop的多维测试数据高效存储平台设计与实现 | 邓威, 袁坤, 蒋庆磊... | 13 | |
| 4 | 基于激光雷达产品的PCB设计规范 | 唐全军, 徐云震, 姬飞龙 | 18 | |
| 5 | 雷达数字T/R组件发射远端杂散快速测试方法研究 | 徐欣欢, 夏松林, 王加锋... | 23 | |
| 6 | 面向数据受限场景的深度学习系统验收测试方法 | 刘硕, 高东辉, 刘伟东... | 26 | |
| 7 | 基于区块链+人工智能技术在装备档案质量管理信息系统研究 | 刘南, 孙文轩 | 32 | |
| 8 | 印制板组装件返工返修三防漆去除方法研究 | 田翔文, 周强, 洪元... | 36 | |
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| 10 | 基于深度学习的事件抽取研究综述 | 罗干, 刘秀磊, 张永刚... | 48 |
