[期刊]
  • 《Optical review》 2009年16卷2期

摘要 : We have developed a thermal microscope which has an InSb detector and optics optimized for the camera. Using this system, we evaluated maximum resolution of a 30x/numerical aperture 0.71 lens made of silicon and germanium, and ach... 展开

作者 Arata~ I   Isobe~ Y   Ishizuka~ T  
作者单位
期刊名称 《Optical review》
总页数 3
语种/中图分类号 英语 / O43  
关键词 thermal imaging   thermal microscopy   thermal emission analysis   InSb   failure analysis   semiconductor  
馆藏号 N2008EPST0000947
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