摘要 : С использованием методов сканирующей зондовой микроскопии и диэлектрической спектроскопии проведены исследования свойств ... 展开 С использованием методов сканирующей зондовой микроскопии и диэлектрической спектроскопии проведены исследования свойств с-ориентированных тонких пленок Sr_(0.5)Ba_(0.5)Nb_2O_6, выращенных на подложке Si(001) （р-тип） с предварительно осажденным слоем Ba_(0.2)Sr_(0.8)TiO_3. Установлено, что пленки Sr_(0.5)Ba_(0.5)Nb_2O_6 характеризуются низкой шероховатостью поверхности （менее 6nm）, средним размером кристаллитов ~ 93 nm. Показано, что в пленке существует самопроизвольная поляризация, направленная от ее поверхности к подложке, что и обусловило проявления эффекта поля дня случая подножки Si с проводимостью Р-типа без внешнего полевого воздействия. Выявлены различия в величине сигнала поверхностного потенциала для областей, поляризованных внешним электрическим полем различной полярности ( + 10 и — 10V）, а также в их релаксации к исходному состоянию. Обсуждаются причины установленных закономерностей. 收起