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国家工程技术图书馆
2022年11月29日
摘要 : 原子力显微镜(AFM)可用于样品表面形貌纳米级观察,并可得到杨氏模量、摩擦力等各种物理参数,但原子力显微镜所使用的探针种类繁多,功能各异,选择合适的探针对获得满意的图象和其他信息至关重要.针对探针的构造进行了系统介绍,对各种功能的探针进行了分... 展开 原子力显微镜(AFM)可用于样品表面形貌纳米级观察,并可得到杨氏模量、摩擦力等各种物理参数,但原子力显微镜所使用的探针种类繁多,功能各异,选择合适的探针对获得满意的图象和其他信息至关重要.针对探针的构造进行了系统介绍,对各种功能的探针进行了分类说明,对检测不同木材样品时的探针选择给出了建议,为科研工作者使用AFM时的探针选择提供技术参考. 收起
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