摘要 : 高效、准确、全面地衡量光电薄膜,可以深入了解其结构特性、电学与光学特性等方面的信息,在器件的设计和性能优化方面发挥着关键作用。同时,光电薄膜的检测与表征也为光电薄膜材料的研究和开发提供了重要的理论基础和指导,推动了光电器件领域的技术进... 展开 高效、准确、全面地衡量光电薄膜,可以深入了解其结构特性、电学与光学特性等方面的信息,在器件的设计和性能优化方面发挥着关键作用。同时,光电薄膜的检测与表征也为光电薄膜材料的研究和开发提供了重要的理论基础和指导,推动了光电器件领域的技术进步和应用拓展,具有重要的学术意义和应用价值。近些年,涌现出多种新型检测与表征技术,然而相关综述文献较少,难以直观地了解各种最新表征方法的原理及其在器件性能优化中的具体应用。文章围绕角度分辨、空间分辨、时间分辨三个表征维度,综述了目前光电薄膜检测与表征技术的基本原理和特点,并介绍了相关技术在光电薄膜的发光特性、可视化空间异质性、载流子动力学等方面的应用进展。最后,讨论并展望了光电薄膜检测与表征技术的未来发展趋势。 收起