摘要 : 采用预制膜硫化法制备铜锌锡硫(CZTS)薄膜,分别在350,400,450,500,550℃进行硫化,研究了硫化温度对薄膜特性的影响.结果表明:硫化温度低于400℃时硫化反应基本上不发生,主要发生Cu6Sn5和Cu5Zn8两相中元素相互扩散的合金化过程,只有少量硫化物Sn3S4和Z... 展开
| 作者 | 谢敏 庄大明 刘江 郭力 宋军 |
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| 作者单位 | |
| 英文名称 | The Influence of Sulfurization Temperature on the Properties of Cu2ZnSnS4 Thin Films |
| 期刊名称 | 《材料研究学报》 |
| 期刊英文名称 | 《Chinese Journal of Materials Research》 |
| 页码/总页数 | 126-130 / 5 |
| 语种/中图分类号 | 汉语 / TM615 |
| 关键词 | 无机非金属材料 太阳电池 铜锌锡硫 溅射 硫化 |
| 基金项目 | 清华大学自主研究计划2010Z08113资助项目. |
| 收录情况 | BDHX CSCD CSTPCD |
| 机标主题词 / 分类号 | 硫化温度;硫化;铜锌锡硫 / TQ330.5;TQ031.9;O613.51 |
