北大核心 CSCD CSTPCD
    [期刊]
  • 《半导体光电》 2000年z1期

摘要 : Philips MRD3710 X射线衍射仪由于其灵敏度高、可靠性好、操作方便,常常用于薄膜测试分析。采用X射线衍射仪对在(100)Si表面溅射Pt,并通过退火处理形成的Pt和Si的化合物进行了测试分析,从而对PtSi膜的研制提供了可靠的数据。

作者 杨晓波   罗江财  
作者单位
英文名称 Measurement of PtSi Films by X- ray Diffractometer
期刊名称 《半导体光电》
期刊英文名称 《Semiconductor Optoelectronics》
页码/总页数 87-88 / 2
语种/中图分类号 汉语 / TN304.07   TN304.055  
关键词 X射线衍射仪   PtSi   衍射峰   薄膜  
收录情况 BDHX CSCD CSTPCD
机标主题词 / 分类号 X射线衍射仪;测试分析;薄膜 / TH744;TB461.1*;TB43
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